✍🏻ADF435x调试笔记
问题
最近在做ADF4351锁相环模块,调试过程中遇到了很多问题,因为锁相环本身就结构复杂,所以程序写的比较花费精力。然而,在多方查找参考资料的过程中,注意到了ADI官网提供了调试软件的免费下载。
这是ADI官方提供的芯片评估板配套使用软件,可以拿来很方便的计算寄存器参数。可以利用这里生成的参数直接写入MCU并发送给ADF4351。
主要内容
首先在 Select Devices and Connection 选择芯片型号,随后进入 Main Control 进行参数的设置。
对于最基础的倍频功能,只需要修改如下几个圈起来的地方即可。
例如板载晶振为24M,且输出要求240M:
这里的多数选项都不需要额外注意,芯片手册里写的很详细。需要注意的是总公式里的 Div 并不都在 Reg0 和 Reg1 当中配置,而是在 Reg4 当中出现。
所以其实针对初始状态进行一次设置之后,只需要修改 Reg0 Reg1 Reg4 的内容即可实现步进倍频的功能。
其余的配置参数可以任意尝试,来帮助理解对应关系。结合手册和软件就能快速掌握芯片的基本用法。
以下是我的工程中的主体代码,仅供参考。方法实现过于简单,就不一一展示了。
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待解决的问题
上图中提到的相位调节 Phase Adjust 一直不太理想,翻遍了ADI官方论坛也没有找到相关的问答。本身该芯片的应用场景就并不倾向于高性能的相位锁定,所以感觉没有必要再深究下去。
但是也有可能是本人对于手册的理解过于肤浅,总之程序完成基础的倍频功能后就没再继续了。