ADF435x锁相环驱动调试

问题

最近在做ADF4351锁相环模块，调试过程中遇到了很多问题，因为锁相环本身就结构复杂，所以程序写的比较花费精力。然而，在多方查找参考资料的过程中，注意到了ADI官网提供了调试软件的免费下载。

ADF4351 Evaluation Software

这是ADI官方提供的芯片评估板配套使用软件，可以拿来很方便的计算寄存器参数。可以利用这里生成的参数直接写入MCU并发送给ADF4351。

主要内容

首先在 Select Devices and Connection 选择芯片型号，随后进入 Main Control 进行参数的设置。

对于最基础的倍频功能，只需要修改如下几个圈起来的地方即可。

例如板载晶振为24M，且输出要求240M：

这里的多数选项都不需要额外注意，芯片手册里写的很详细。需要注意的是总公式里的 Div 并不都在 Reg0 和 Reg1 当中配置，而是在 Reg4 当中出现。

所以其实针对初始状态进行一次设置之后，只需要修改 Reg0 Reg1 Reg4 的内容即可实现步进倍频的功能。

其余的配置参数可以任意尝试，来帮助理解对应关系。结合手册和软件就能快速掌握芯片的基本用法。

以下是我的工程中的主体代码，仅供参考。方法实现过于简单，就不一一展示了。

namespace adf4351 {
    constexpr auto REG_SIZE{6};
    constexpr float MAX_OUT_FREQ{4400};
    constexpr float MIN_OUT_FREQ{35};

    class Pll {
       public:
        Pll();
        ~Pll() = default;

        bool setInput(const float& freq);

        bool setFreq(const float& freq);
        bool setPhase(const uint16_t& phase);
        [[nodiscard]] float getFreq() const;
        [[nodiscard]] uint16_t getPhase() const;

       private:
        float input_freq_{24};
        float output_freq_{240};
        uint16_t output_phase_{0};
        std::array<uint32_t, REG_SIZE> reg;
        
        // ...
    }
}